样品的表征 (IMAGE)
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(a) 合成薄膜的 XRD 图谱；(b) 薄膜的 TEM 图像（比例尺为 5 nm）； (c) 放大的 TEM 图像，显示薄膜样品上的晶格条纹（比例尺为 2 nm）； (d) 薄膜内较厚区域的 TEM 图像（比例尺为 1 nm）；(e) SiO2/Si 衬底上纤维的光致发光图像（比例尺为 50 μm）；(f) 转移到 SiO2/Si 衬底上的薄膜的光致发光图像（比例尺为 20 μm）。
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