image: 水のぬれを支配する「線張力」の起源を解明――接触線での水分子構造の崩壊が符号反転を生む―― view more
Credit: 東京大学 生産技術研究所
東京大学 生産技術研究所 着霜制御サイエンス社会連携研究部門（研究当時）／同大学 先端科学技術研究センターの田中肇 特任研究員（東京大学名誉教授）と 東京大学大学 生産技術研究所 着霜制御サイエンス社会連携研究部門（研究当時）／同大学 先端科学技術研究センターのモイド モハド 特任研究員の研究グループは、水ナノ液滴のぬれを支配する「線張力」の微視的起源を、分子動力学シミュレーションと熱力学解析によって解明しました。
本成果は、ぬれを単なる表面化学や連続体力学の問題としてではなく、界面における分子レベルの構造と安定性の結びつきとして捉え直すものであり、ナノ流体、凍結制御、界面材料設計に新たな指針を与えると期待されます。
Journal
Nature Physics
Article Title
Structural origin of line-tension reversal in nanoscale wetting of water
Article Publication Date
19-Jun-2026