コーティングしたグラファイト・マイクロビーズの走査型電子顕微鏡画像 (IMAGE)

Okinawa Institute of Science and Technology (OIST) Graduate University

コーティングしたグラファイト・マイクロビーズの走査型電子顕微鏡画像

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コーティングしたグラファイト・マイクロビーズの走査型電子顕微鏡画像。緑色の領域はシリコンを示し、絶縁コーティングの存在が確認できる。

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